高低溫冷熱沖擊循環(huán)老化環(huán)境試驗箱，又名環(huán)境模擬試驗設(shè)備，它能按IEC、MIL、IS0、GB、GJB等標(biāo)準(zhǔn)或用戶要求進(jìn)行冷熱沖擊、高溫、低溫、溫度沖擊（氣態(tài)及液態(tài)）、浸漬、溫度循環(huán)、低氣壓、高低溫低氣壓、恒定濕熱、交變濕熱、高壓蒸煮、砂塵、耐爆炸、鹽霧腐蝕、氣體腐蝕、霉菌、淋雨、太陽輻射、光老化等。

①高低溫試驗箱：適用于工業(yè)產(chǎn)品高溫、低溫的可靠性試驗。對電子電工、汽車摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高溫、低溫（交變）循環(huán)變化的情況下，檢驗其各項性能指標(biāo)。產(chǎn)品具有較寬的溫度控制范圍，其性能指標(biāo)均達(dá)到國家標(biāo)準(zhǔn)GB10592-89高低溫試驗箱技術(shù)條件，適用于按GB2423.1、GB2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗A：低溫試驗方法，試驗B：高溫試驗方法》對產(chǎn)品進(jìn)行低溫、高溫試驗及恒定溫?zé)嵩囼?。產(chǎn)品符合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL標(biāo)準(zhǔn)。

②冷熱循環(huán)沖擊試驗箱（又名冷熱沖擊試驗箱、冷熱循環(huán)試驗箱）適用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組件，無一不需要它的理想測試工具.。試驗箱適用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組件，無一不需要它的理想測試工具.。

光熱濕熱鹽霧臭氧高低溫循環(huán)老化環(huán)境試驗箱

生產(chǎn)廠家：深圳市普云電子有限公司

特色：常規(guī)機現(xiàn)貨供應(yīng)，非標(biāo)機快速定制。

主要的老化試驗項目是：

1、光老化測試+波長范圍：氙弧燈老化（300-800nm）、紫外燈老化（280-400nm）、碳弧燈老化（300-700nm），金屬鹵素?zé)衾匣?80-3000nm）。

主要參考標(biāo)準(zhǔn)有：

氙弧燈老化：GB/T 16422.2(等同與GB/T4892.2)、GB/T 8427、GB/T 1865ASTM D4355、ASTM G155、JIS K5600等

紫外光老化：GB/T 16422.3(等同與GB/T4892.3)、GB/T 18950、ASTM G 154ASTM D-4674、ASTM_D4674、JIS K 7350 等

碳弧燈老化：GB/T 16422.3(等同與GB/T4892.3)、ASTM G153、JIS D 0205JIS B 7753等

金屬鹵素?zé)衾匣篏B 2423.24、IEC60068-2-5、DIN75520等

光老化是戶外使用材料受到的主要老化破壞，對于室內(nèi)使用材料，也會受到一定程度的光老化。模擬光老化主要的三種燈源各有優(yōu)異，碳弧燈最早發(fā)明使用，建立的測量體系較早、很多日本標(biāo)準(zhǔn)和纖維材料方面的標(biāo)準(zhǔn)都使用碳弧燈，但由于碳弧燈價格較高、性能不夠穩(wěn)定（燈管使用90小時后需要更換），已經(jīng)逐漸被氙弧燈、紫外燈代替。氙燈在模擬自然光方面有較大優(yōu)勢，價格也相對較低，適合多數(shù)產(chǎn)品的使用。紫外燈產(chǎn)生的是400nm以下的光，能較好地加速模擬自然光中紫外線對材料的破壞作用，加速因子比氙燈要高，光源穩(wěn)定性也比氙燈要好，但容易產(chǎn)生非自然光產(chǎn)出的破壞（尤其是UVB燈）。

主要應(yīng)用范圍：戶外、室內(nèi)使用的橡塑、涂料、油墨產(chǎn)品，通訊、電器等設(shè)備外殼，汽車件、摩托車配件。

設(shè)備：PY-E501UV紫外線老化試驗箱、PY-E502燈炮式耐黃變試驗箱、PY-E506氙燈老化試驗箱 (A水冷式 B風(fēng)冷式)、PY-E519太陽輻射(日照)試驗箱等。

2、熱老化

主要參考標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 7141、ASTM D3045、JIS K 6257等。

GB/T20028硫化橡膠或熱塑性橡膠 應(yīng)用阿累尼烏斯圖推算壽命和最高使用溫度。

熱老化箱具備程序功能，可以通過程序設(shè)定溫度變化，適合各種產(chǎn)品熱老化的需要呢。

主要應(yīng)用范圍：各種產(chǎn)品耐熱老化測試，如PCB板、電器中絕緣橡膠、長壽命需求產(chǎn)品（如斜拉索大橋用外套料，使用年限要20年以上）等，考察材料隨著使用時間的推移，產(chǎn)品性能的變化狀況，考察產(chǎn)品使用的可靠性。

設(shè)備：PY-E510冷熱沖擊循環(huán)試驗箱、PY-E503恒溫恒濕試驗箱、PY-E514換氣老化試驗箱

3、濕熱老化

主要參考標(biāo)準(zhǔn)：通用標(biāo)準(zhǔn)有GB/T 15905、GB/T 2573等。另外還可以根據(jù)不同的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)、企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)定濕度、溫度的變化曲線，適合各種復(fù)雜的濕熱老化測試。產(chǎn)品使用過程中，容易受到溫度和濕度的雙重影響，對于一些對水敏感的材料，如PET、PBT等，需要進(jìn)行濕熱老化測試，以評定是否適合在潮濕的環(huán)境下長期使用。

設(shè)備：PY-E517快速溫變（濕熱）試驗箱、PY-E515高低溫試驗箱

4、鹽霧老化

主要參考標(biāo)準(zhǔn)： GB/T 10125、GB/T 12000\、ASTM D117 、JIS Z2371等標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行中性鹽霧、酸性鹽霧、銅離子加速鹽霧測試。主要用于模擬大氣中的溶解于水蒸汽中的氯化鈉對涂層、鍍層等保護(hù)程以及金屬地材的腐蝕作用，尤其是沿海地區(qū)及內(nèi)陸鹽湖周邊地區(qū)，空氣中鹽分較高，產(chǎn)品很容易受到鹽霧腐蝕。主要適用產(chǎn)品：各類涂料，如建筑外墻涂料、船用涂料、貨柜用涂料等，各類鍍層。

設(shè)備：PY-E504鹽霧腐蝕試驗機

5、臭氧老化

主要參考標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 7762、GB/T 24134、GB/T 13642、HG/T 2869、JIS K 6259、ASTM D 1149。主要考察橡膠耐臭氧性能（橡膠中含有大量雙鍵，容易受到臭氧攻擊，尤其是在動態(tài)使用或者是拉伸時，臭氧對橡膠的破壞更加嚴(yán)重），也可以考察TPU、EPDM等新型彈性體的抗臭氧性能。

設(shè)備：PY-E505臭氧老化試驗箱 PY-E513霉菌試驗箱

6、高低溫循環(huán)

主要參考標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423，JG/T 25建筑涂料涂層耐凍融循環(huán)性測定法等標(biāo)準(zhǔn)，可以按照不同產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中，關(guān)于高低溫循環(huán)、凍融循環(huán)的相關(guān)測試方法來開展試驗。主要用于建筑涂料、特殊環(huán)境使用設(shè)備等檢測。

設(shè)備：PY-E515高低溫試驗箱、PY-E503恒溫恒濕試驗箱、PY-E516冷熱沖擊試驗箱（A兩箱式、B三箱式）

7、冷熱沖擊循環(huán)試驗箱---------高低溫冷熱沖擊循環(huán)老化環(huán)境試驗箱

主要參考標(biāo)準(zhǔn)：GB/T2423.1.2 GB10592-89 GJB150 等國家標(biāo)準(zhǔn)。冷熱沖擊實驗箱也叫冷熱沖擊機，適用于電子元氣件的安全性能測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選試驗等，同時通過此裝備試驗，可提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。

光熱濕熱鹽霧臭氧高低溫循環(huán)老化環(huán)境試驗箱，又名老化試驗主要是指針對橡膠、塑料產(chǎn)品、電器絕緣材料及其他材料進(jìn)行的熱氧老化試驗；或者針對電子零配件、塑化產(chǎn)品的換氣老化試驗。老化試驗又分為溫度老化、陽光輻照老化、加載老化等等。高溫老化一般分幾個等級進(jìn)行,工業(yè)的一般用70度,4個小時,15度一個等級,一般有40度,55度70度,85度幾個等級,時間一般都是4個小時。

根據(jù)老化試驗產(chǎn)品的多少分為2種方法測試

1、老化箱；主要針對塑膠產(chǎn)品，而且數(shù)量和體積不很大的產(chǎn)品比較實用

2、老化柜或是老化房；主要針對高性能電子產(chǎn)品（如：計算機整機，顯示器，終端機，車用電子產(chǎn)品，電源供應(yīng)器，主機板、監(jiān)視器、交換式充電器等）仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測試的設(shè)備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實驗設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競爭性的重要生產(chǎn)流程，該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥等領(lǐng)域