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二手 日本電子JSM IT-200掃描電子顯微鏡利用聚焦的很窄的高能電子束來(lái)掃描樣品, 通過(guò)光束與物質(zhì)間的相互作用, 來(lái)激發(fā)各種物理信息, 對(duì)這些信息收集、放大、再成像以達(dá)到對(duì)物質(zhì)微觀形貌表征的目的。
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二手 日本電子 JSM-7610F plus場(chǎng)發(fā)射電鏡 ?是一種優(yōu)良的電子顯微鏡，其核心原理基于場(chǎng)發(fā)射電子源和電子光學(xué)系統(tǒng)。場(chǎng)發(fā)射電鏡利用強(qiáng)電場(chǎng)作用，使得電子通過(guò)量子隧道效應(yīng)逸出，形成高亮度、高相干性且能量分散小的電子束。這種電子源相比傳統(tǒng)的熱發(fā)射電子源，具有更高的亮度和更小的電子束直徑，從而實(shí)現(xiàn)更高的分辨率。
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二手 日本電子 SEM IT100掃描電鏡主要特點(diǎn)為全數(shù)字化控制系統(tǒng)，高分辨率、高精度的變焦聚光鏡系統(tǒng)、全對(duì)中樣品臺(tái)及高靈敏度半導(dǎo)體背散射探頭；用于各種材料的形貌組織觀察、金屬材料斷口分析和失效分析。該型號(hào)在很多大學(xué)、研究院所及制造業(yè)被廣泛使用。
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二手 日立 掃描電鏡SU-3500系列SEM+EDX具有實(shí)現(xiàn)了“3 kV加速電壓7 nm分辨率”的全新電子光學(xué)系統(tǒng), 可實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)立體成像的“實(shí)時(shí)立體觀察功能”＊1、以及更高檢測(cè)效率的 “UVD超高靈敏度可變壓力檢測(cè)器”＊1它為觀察和分析提出了嶄新的標(biāo)準(zhǔn)。
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二手 FEI 掃描電鏡 QUANTA系列 250研究各種各樣的材料，并進(jìn)行結(jié)構(gòu)和成份表征，是目前對(duì)掃描電鏡 的主流應(yīng)用要求。FEI QuantaTM FEG系列靈活、通用，足以應(yīng)對(duì)當(dāng)今人 們廣博的研究方向這一挑戰(zhàn)。“分析任何樣品，得到所有數(shù)據(jù)”， 在Quanta FEG上可得到表面像和成份像，并可輔以多種附件來(lái)確定材 料的性質(zhì)和元素組成。
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二手 蔡司 SEM SUPRA25 掃描電鏡廣泛地應(yīng)用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機(jī)械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、 織、水泥、玻璃纖維)等檢驗(yàn)和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進(jìn)行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實(shí)時(shí)微區(qū)成分分析，元素定量、定性成分分析。
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二手 日本電子 IT-300掃描電鏡經(jīng)過(guò)改進(jìn)照射系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和信號(hào)處理系統(tǒng)，不僅能觀察高質(zhì)量的圖像，還能利用觸控屏和快速樣品臺(tái)進(jìn)行高通量的直觀操作。JSM-IT300 提供高畫(huà)質(zhì)圖像，能滿(mǎn)足您對(duì)W-SEM機(jī)型的期待，新的鏡筒設(shè)計(jì)和掃描系統(tǒng)使得不導(dǎo)電樣品的圖像質(zhì)量有了顯著的提高。
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二手FIB+雙束FIB+場(chǎng)發(fā)射電鏡在高科技領(lǐng)域，掃描電鏡（SEM）是揭示材料微觀世界的重要工具。美國(guó)FEI公司和賽默飛（Thermo Fisher Scientific）作為電鏡技術(shù)的企業(yè)，其產(chǎn)品在全球范圍內(nèi)被廣泛使用?；窗哺粎R電子有限公司，作為專(zhuān)業(yè)的第三方供應(yīng)商，現(xiàn)提供現(xiàn)貨供應(yīng)的美國(guó)FEI/賽默飛掃描電鏡。
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二手SEM+EDX場(chǎng)發(fā)射電鏡:超高分辨率：場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡，最大可放大100萬(wàn)倍，提供超高清晰度的圖像。多功能探頭：配備SE（二次電子）、BSE（背散射）、EDS（能譜）和STEM（掃描透射）探頭，能夠?qū)崿F(xiàn)表面形貌觀察和成分分析。
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sigma500 二手蔡司場(chǎng)發(fā)射電鏡是蔡司公司推出的高性能設(shè)備，它采用成熟的GEMINI光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)，分辨率超過(guò)0.8nm，能提供優(yōu)秀分辨率和分析性能的科研平臺(tái)。這款設(shè)備專(zhuān)注于EDS幾何學(xué)設(shè)計(jì)，可以獲取分析性能，而且有多種探測(cè)器選擇，可以精準(zhǔn)匹配您的應(yīng)用程序，獲取微小粒子、表面、納米結(jié)構(gòu)等多種圖像信息
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